產(chǎn)品型號: XRF系列
產(chǎn)品時間: 2024-01-09
所 在 地: 深圳市寶安區(qū)福永鎮(zhèn)鳳凰第一工業(yè)區(qū)
從70年代末開始一直在引入國外的分析設(shè)備來不斷提升分析測試能力,到今天X熒光礦石分析儀在地礦系統(tǒng)中應(yīng)用非常廣泛,產(chǎn)品分為臺式X熒光礦石分析儀和便攜式X熒光礦石分析儀。
Genius7000型便攜式X熒光礦石分析儀
X熒光礦石分析儀設(shè)備特點
X熒光法在應(yīng)用于礦石行業(yè)的特點很明顯,分析速度快,前處理簡單,樣品無損、人為誤差小、分析范圍廣、檢出限達到ppm級等的特點。可以測液體、固體和粉未樣品??捎糜谑覂?nèi)外現(xiàn)場分析
。
1、設(shè)備簡單易用(野外設(shè)備需要便攜)
2、可快速對樣品做定性分析
3、對樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析。
4、樣品處理方法簡單或無前處理
5、設(shè)備可靠、維修、維護簡單
6、便捷、低廉的售后服務(wù)保證
設(shè)備作用
采用便攜式X熒光礦石分析儀主要是為了能在野外地質(zhì)分析和找礦。為現(xiàn)場人員提供數(shù)據(jù)支持和依據(jù)。
在找礦和礦山冶煉過程中,也起到快速分析的作用,進行定性、定量分析,提供初級數(shù)據(jù)和生產(chǎn)控制實時數(shù)據(jù)
X熒光礦石分析儀測試
便攜式X熒光礦石分析儀測定多金屬礦中元素的方法
測試對象:多金屬礦
儀器:Genius 7000XRF
測定步驟:
步:前處理樣品-粉碎后壓片10g左右直接測試。
第二步:確定測試時間:30S
第三步:測試其重復(fù)性得出相對標(biāo)準(zhǔn)偏差
測試結(jié)果