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 XRF-4500X熒光光譜儀性能特點(diǎn)

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國(guó)際良好水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
mdash信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高信號(hào)處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

 XRF-4500X熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào)：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm&mdash99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素
分析精度：0.05 （含量高于96以上的樣品、21次測(cè)試穩(wěn)定性）
測(cè)量時(shí)間：30秒200秒
探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV50KV
管流：50&muA1000&muA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V220V
環(huán)境溫度：15℃30℃
環(huán)境濕度：3570
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測(cè)器
數(shù)字多道技術(shù)
信噪比增強(qiáng)器 SNE
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

應(yīng)用領(lǐng)域

XRF-X熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于合金檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素） 、鍍層檢測(cè)等行業(yè)。